超g分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000

产品说明：产品介绍日立2011年新推出了SU9000特点： 2. Hitachi专*设计的EB系统，可以自由控制SE和BSE检测信号。 4. *新物镜设计显著提高低加速电压条件下的图像分辨率。 6. 与FIB兼容的侧...

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产品详情

日立2011年新推出了超g分辨冷场发射扫描电镜SU9000，达到扫描电镜电子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了*新改进的真空系统和电子光学系统，不仅分辨率性能明显提升，而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作，可以*效率的快速获取样品超g分辨扫描电镜图像。

特点：

1. 新型电子光学系统设计达到扫描电镜世*高分辨率：二次电子0.4nm（30KV），STEM 0.34nm（30KV）。

2. Hitachi的E×B系统，可以自由控制SE和BSE检测信号。

3. 全*真空技术设计使得SU9000冷场发射电子束具有超稳定和高亮度特点。

4. *新物镜设计显著提高低加速电压条件下的图像分辨率。

5. STEM的明场像能够调整信号检测角度，明场像、暗场像和二次电子图像可以同时显示并拍摄照片。

6. 与FIB兼容的侧插样品杆提高更换样品效率和高倍率图像观察效率。

应用领域：

1. 半导体器件

2. 高分子材料

3. 纳米材料

4. 生命科学

技术参数